동양반도체는 13일 백라이트유닛의 표면을 검사하는 방법 및 장치와 관련해 특허를 취득했다고 밝혔다.
동양반도체 관계자는 "백라이트 표면과 표면내부의 미세한 오염을 외부에서 CCD카메라로 식별하기 위한 조건으로 백라이트에 대하여 시야 각과 검사방향을변화시켜 검사할 수 있는 원리에 그 기초를 두고 있다"고 설명했다.
입력 2006-11-13 17:20
동양반도체는 13일 백라이트유닛의 표면을 검사하는 방법 및 장치와 관련해 특허를 취득했다고 밝혔다.
동양반도체 관계자는 "백라이트 표면과 표면내부의 미세한 오염을 외부에서 CCD카메라로 식별하기 위한 조건으로 백라이트에 대하여 시야 각과 검사방향을변화시켜 검사할 수 있는 원리에 그 기초를 두고 있다"고 설명했다.
주요 뉴스
많이 본 뉴스
증권·금융 최신 뉴스
마켓 뉴스