유니테스트, 원가절감 반도체 테스트기 개발

반도체 검사장비 개발업체인 유니테스트는 28일 UNI930(고속의 번인)장비를 개발 완료하여 26일 해외 고객에게 양산 검증을 위해 선적했다고 밝혔다.

이번에 개발한 UNI930은 기존 B/I 장비가 가지는 10Mhz 수준의 속도를 100~150Mhz까지 끌어 올려 B/I 공정과 고온, 저온 Core 테스트의 세가지 공정을 통합 가능하게 했다.

이로 인해 원가절감 및 납기단축, 수율향상 등 반도체 후공정의 테스트 패러다임을 크게 바꿀 수 있는 획기적인 설비라는 것이 회사측의 설명이다.

또한 DRAM 및 Flash에 모두 사용 가능하며 Flash 메모리에 적용하는 경우 동시에 테스트 가능한 숫자가 현재보다 10배 이상 되어 큰 폭의 원가절감을 이룰 수 있다.

유니테스트 관계자는 “약 1년의 개발기간을 거쳐 스피드 및 성능을 풀 커버 할 수 있는 고속의 번인 장비 개발을 완료했으며 년 내에 양산 검증 후 2010년부터 본격적인 발주가 기대된다”며 “특히 번인 공정은 처리시간이 매우 길어서 테스터보다 월등히 많은 설비가 필요하기 때문에 향후 큰 폭의 매출신장과 실적개선을 기대한다”고 강종했다.