표준과학硏, 광학 측정분야 국제학술대회 개최

입력 2008-10-10 11:53

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한국표준과학연구원(KRISS)은 오는 13일부터 17일까지 대전컨벤션센터에서 세계 광학 측정분야의 새로운 발전과 응용을 위한 '2008 NEWRAD(New Developments and Applications in Optical Radiometry)' 국제학술대회를 개최한다고 10일 밝혔다.

이번 학술대회에는 미국, 일본, 영국, 독일, 체코, 핀란드, 싱가포르 등 21개국 200여명의 광학 측정분야 전문가들이 참석하며, 복사량 절대측정, 자외선·가시광·적외선 측정, 복사측정 국제표준, 광학 측정 신기술 등 9개 주제로 총 151편에 이르는 국내외 연구현황 및 성과에 대한 발표가 이뤄진다.

주요 발표 내용으로는 ▲KRISS 이인원 박사의 '디스플레이 산업의 측정' ▲미국 오스람사 다우바흐 박사의 'LED 및 반도체 조명 기술과 측정' ▲독일 국가표준기관(PTB) 빈터 박사의 '태양전지 측정' ▲영국 국가표준기관(NPL) 폭스 박사의 '위성 측정에서의 단위계 실현' ▲미국 국가표준기관(NIST) 스티븐 박사의 '하이퍼스펙트럴 카메라의 평가' ▲독일 항공우주센터 휘브너 박사의 '테라헤르츠 응용 및 측정' ▲일본 동경기술원 야마구치 박사의 '의학용 분광이미징 기술' 등이다.

박승남 KRISS 기반표준본부장은 "이번 학술대회는 아시아에서는 한국이 최초로 유치해 개최한 행사"라며 "한국이 광량, 복사량, 색채 등 광학 측정분야에서 그동안 수행해 온 국제 활동 및 측정기술의 우수성이 인정된 결과"라고 말했다.

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