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엑시콘, 반도체 메모리 장치의 고속 번인 테스트 시스템 관련 특허 취득

입력 2020-07-31 17:32

엑시콘은 반도체 메모리 장치의 고속 번인 테스트 시스템 관련해 특허권을 취득했다고 31일 자율공시했다.

회사 측은 “메모리 번인 테스터의 성능 향상 및 신제품 개발에 적용할 예정”이라고 말했다.

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